Beschreibung:
Nach der Vermittlung der Grundlagen der Kristallographie werden die für die Analyse von Werkstoffen wichtigen Methoden der Elektronenmikroskopie (Rasterelektronenmikroskopie, Transmissionselektronenmikroskopie, Focused Ion Beam, Raster-Tunnelmikroskopie u.a.)vorgestellt. Mit Hilfe von Anwendungsbeispielen werden unterschiedliche Präparationstechniken vorgestellt. Neben den Grundfunktionen der Geräte, Bedienung und Einflussfaktoren werden auch verschiedene Analysemethoden und Spezialverfahren erläutert und teilweise auch praktisch vorgeführt. Anhand von Beispielen werden die Ergebnisse solcher Analysemethoden ausgewertet und diskutiert. Lernziele:
Nach der Vermittlung der Grundlagen der Kristallographie wird den Studierenden ein Überblick über die Möglichkeiten moderner Elektronenmikroskopie gegeben. Auf der Basis dieser Kenntnisse sollen die Studierenden vom Prinzip her in der Lage sein, je nach Anwendungsfall geeignete Analysemethoden auszuwählen und die Ergebnisse entsprechend zu bewerten. |
